SEM-EDX Point Analysis

PadatPowderSEM Imaging dan EDX Point Analysis
SEM-EDX Point Analysis

Deskripsi

SEM-EDX Point Analysis digunakan untuk mengetahui komposisi unsur kimia pada area atau titik spesifik dari permukaan sampel. Metode ini cocok untuk analisis material padat, serbuk, logam, keramik, komposit, mineral, katalis, coating, dan material hasil sintesis. Hasil pengujian berupa citra SEM, spektrum EDX, serta data persentase unsur pada titik analisis yang dapat digunakan untuk identifikasi material, verifikasi komposisi, analisis kontaminan, evaluasi coating, dan karakterisasi mikrostruktur.

Alat Pengujian

Scanning Electron Microscope with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy / SEM-EDX

Informasi Pengujian

Jenis Sampel :

Padat, Powder

Estimasi Waktu :

1–3 hari kerja

Metode Pengujian

Sampel ditempatkan pada stub SEM, kemudian diamati menggunakan berkas elektron untuk memperoleh citra permukaan. Area atau titik tertentu dipilih untuk dianalisis menggunakan detektor EDX. Sinyal sinar-X karakteristik yang dihasilkan digunakan untuk mengidentifikasi unsur dan menghitung komposisi relatif pada titik tersebut. Sampel non-konduktif dapat memerlukan proses coating agar pengamatan lebih stabil.

Rp 250.000/ Sampel
Ajukan Pengujian