SEM-EDX Mapping & Point Analysis

PadatPowderSEM Imaging, EDX Elemental Mapping, dan EDX Point Analysis
SEM-EDX Mapping & Point Analysis

Deskripsi

SEM-EDX Mapping & Point Analysis digunakan untuk mengamati morfologi permukaan sampel sekaligus menganalisis komposisi dan distribusi unsur kimia pada area tertentu. Mapping digunakan untuk melihat persebaran unsur pada permukaan sampel, sedangkan point analysis digunakan untuk mengetahui komposisi unsur pada titik spesifik. Metode ini cocok untuk karakterisasi material padat, serbuk, logam, keramik, komposit, mineral, katalis, coating, dan material hasil sintesis. Hasil pengujian dapat berupa citra SEM, spektrum EDX, data komposisi unsur, serta peta distribusi unsur.

Alat Pengujian

Scanning Electron Microscope with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy / SEM-EDX

Informasi Pengujian

Jenis Sampel :

Padat, Powder

Estimasi Waktu :

1–3 hari kerja

Metode Pengujian

Sampel ditempatkan pada stub SEM, kemudian diamati menggunakan berkas elektron untuk memperoleh citra permukaan. Area tertentu dianalisis menggunakan detektor EDX untuk memperoleh data distribusi unsur melalui mapping dan komposisi unsur pada titik spesifik melalui point analysis. Sampel non-konduktif dapat memerlukan proses coating agar pengamatan lebih stabil dan hasil citra lebih jelas.

Rp 250.000/ Sampel
Ajukan Pengujian